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Título: 

Depth profiling of C and 3He implanted in nanostructured W film

Autor: Ferrer, F. J. CSIC ORCID; Jiménez-Ramos, M. C. CSIC ORCID; García López, J. CSIC ORCID; Gordillo, Nuria; González-Arrabal, Raquel CSIC ORCID; Panizo-Laiz, M.; Perlado, J.M.
Fecha de publicación: 8-oct-2017
Citación: IBA 2017
Descripción: Trabajo presentado en el 23rd International Conference on Ion Beam Analysis (IBA 2017), celebrada en Shanghai (China) del 8 al 13 de octubre de 2017
URI: http://hdl.handle.net/10261/195708
Aparece en las colecciones: (CNA) Comunicaciones congresos




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