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Título

bcalflash

Autor Aledo, C. ; Peralías, E.
Palabras clave ADC
Self-calibration
Background-calibration
Fecha de publicación 2016
Citación bcalflash [Integrated circuit], 2016
Resumen[ES]: Este proyecto pretende el desarrollo de soluciones de test de bajo coste, fiables y verificables para circuitos analógicos, de señal mixta y de radio-frecuencia (AMS-RF). Capitalizando el conocimiento del diseñador experto sobre los procesos de diseño de dichos circuitos y sobre las limitaciones de las técnicas de test desarrolladas hasta hoy, pretendemos buscar nuevos paradigmas de test que permitan abandonar con seguridad los métodos de test funcionales completos tradicionales. Pretende así contribuir a la disminución del coste de test que representa hoy en día cerca de la mitad del coste de fabricación de un circuito complejo. Nos centraremos en métodos funcionales alternativos y en métodos de test indirectos. Los primeros medirán parámetros funcionales pero con técnicas menos costosas que las estándares, relajando así los requerimientos de los equipos de test. Los segundos, estarían orientados a la detección de defectos, y parten de la base de considerar que el circuito es correcto por construcción y lo que se busca con el test son indicios de su posible degradación. Este puede ser un cambio paradigmático de consecuencias muy relevantes en los productos electrónicos actuales; si el proyecto da los frutos esperados, esta metodología podría tener un impacto similar en los circuitos AMS-RF al que tuvo la introducción del Boundary-Scan en los circuitos digitales
[EN] This project aims to develop low-cost, reliable, and verifiable test solutions for analog, mixed-signal, and radio frequency circuits (AMARF). Capitalizing the skill of the designer on the design process of such circuits and on the limitations of the test techniques developed to date, we intend to seek new test paradigms that allow safely abandon the traditional methods of functional test. In this way, it could contribute to decrease the test cost that represents today about half the cost of manufacturing a complex circuit. We will focus on functional alternative methods and indirect test methods. The first will measure functional parameters but will be less expensive than standard techniques, thus relaxing the requirements of the test equipments. The later would be aimed at the detection of defects, and will be based on the assumption of considering that the circuit is correct by construction and what is sought with the test are indications of possible degradation. This can be a paradigm shift of very important consequences in current electronic products; if the project gives the expected results, this methodology could have a similar impact on the AMS-RF circuits that it had the introduction of the Boundary-Scan in digital circuits
Descripción 3-b Flash ADC Background Calibration
Versión del editorhttp://www.imse-cnm.csic.es/es/catalogo_chips.php
URI http://hdl.handle.net/10261/150690
Aparece en las colecciones: (IMS-CNM) Catálogo de Circuitos Integrados
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