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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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closedAccess | 2010 | Direct chemical in-depth profile analysis and thickness quantification of nanometer multilayers using pulsed-rf-GD-TOFMS | Valledor, Luis; Pisonero, J.; Bordel, N.; Martín, José Ignacio CSIC ORCID; Quirós, Carlos CSIC ORCID; Tempez, A.; Sanz-Medel, A. | artículo |