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Navegación por Autor Wiemer, C.

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openAccessSiegel.pdf.jpg2008Amorphization dynamics of Ge2 Sb2 Te5 films upon nano- and femtosecond laser pulse irradiationSiegel, Jan CSIC ORCID ; Gawelda, W. CSIC ORCID; Puerto, D. CSIC ORCID; Dorronsoro, Carlos CSIC ORCID; Solís Céspedes, Javier CSIC ORCID ; Afonso, Carmen N. CSIC ; Sande, J. C. G. de CSIC; Bez, R.; Pirovano, A.; Wiemer, C.artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2008Chemical vapor deposition of chalcogenide materials for phase-change memoriesAbrutis, A.; Plausinaitiene, V.; Skapas, M.; Wiemer, C.; Salicio, O.; Longo, M.; Pirovano, A.; Siegel, Jan CSIC ORCID ; Gawelda, W. CSIC ORCID; Rushworth, S.artículo
openAccessGawelda.pdf.jpg2011Dynamics of laser-induced phase switching in GeTe filmsGawelda, W. CSIC ORCID; Siegel, Jan CSIC ORCID ; Afonso, Carmen N. CSIC ; Plausinaitiene, V.; Abrutis, A.; Wiemer, C.artículo
openAccessSalicio.pdf.jpg2009Effect of pulsed laser irradiation on the structure of GeTe films deposited by metal organic chemical vapor deposition: A Raman spectroscopy studySalicio, O.; Wiemer, C.; Fanciulli, M.; Gawelda, W. CSIC ORCID; Siegel, Jan CSIC ORCID ; Afonso, Carmen N. CSIC ; Plausinaitiene, V.; Abrutis, A.artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2008Hot-wire chemical vapor deposition of chalcogenide materials for phase change memory applicationsAbrutis, A.; Plausinaitiene, V.; Skapas, M.; Wiemer, C.; Salicio, O.; Pirovano, A.; Varesi, Enrico; Rushworth, S.; Gawelda, W. CSIC ORCID; Siegel, Jan CSIC ORCID artículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2009Hot-wire chemical vapor growth and characterization of crystalline GeTe filmsAbrutis, A.; Plausinaitiene, V.; Skapas, M.; Wiemer, C.; Gawelda, W. CSIC ORCID; Siegel, Jan CSIC ORCID ; Rushworth, S.artículo
openAccessSiegel, J.pdf.jpg2010Ultraviolet optical near-fields of microspheres imprinted in phase change filmsSiegel, Jan CSIC ORCID ; Puerto, D. CSIC ORCID; Solís Céspedes, Javier CSIC ORCID ; García de Abajo, Francisco Javier; Afonso, Carmen N. CSIC ; Longo, M.; Wiemer, C.; Fanciulli, M.; Kühler, Paul CSIC; Mosbacher, M.; Leiderer, Paulartículo