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Browsing by Author Vellvehi Hernández, Miquel

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RightsPreviewIssue DateTitleAuthor(s)Type
closedAccess2008A heterodyne method for the thermal observation of the electrical behavior of high-frequency integrated circuitsAltet, J.; Aldrete Vidrio, E.; Mateo, D.; Perpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Salhi, A.; Grauby, Stéphane; Claeys, W.; Dilhaire, S.artículo
openAccessenergies-10-00256-v2.pdf.jpg20-Feb-2017A New Vertical JFET Power Device for Harsh Radiation EnvironmentsFernández-Martínez, Pablo; Flores, David; Hidalgo, Salvador; Jordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Quirion, David; Ré, Lucía; Ullán, Miguel; Vellvehi Hernández, Miquelartículo
openAccessARTICULOS13790[1].pdf.jpgMay-2010Analysis of Excess Carrier Concentration Control in Fast-Recovery High Power Bipolar Diodes at Low Current DensitiesPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Vobecky, J.; Mestres, Narcís artículo
openAccessARTICULOS13057[1].pdf.jpg2005Development of an analog processing circuit for IR-radiation power and noncontact position measurementsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, Joséartículo
openAccessARTICULOS13282[1].pdf.jpgDec-2004Heat power source controller circuitMadrid, Francesc ; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Perpiñà, X.; Godignon, Philippeartículo
openAccessARTICULOS315585[1].pdf.jpg2011Hot spot analysis in integrated circuit substrates by laser mirage effectPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Altet, J.artículo
closedAccessOct-2008Hot-Spot Detection in Integrated Circuits by Substrate Heat-Flux SensingPerpiñà, X.; Altet, J.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Mestres, Narcís artículo
closedAccess2004Internal infrared laser deflection system: a tool for power device characterizationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Mestres, Narcís ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; Millán, José; Kiedrowski, H. vonartículo
openAccessWO2007122281A1.pdf.jpg1-Nov-2007Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular, método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan Antoniopatente
openAccess2317731_B1.pdf.jpg4-Feb-2010Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular. Método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan Antoniopatente
closedAccessJan-2009Laser beam deflection-based perimeter scanning of integrated circuits for local overheating locationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Altet, J.; Vellvehi Hernández, Miquel; Mestres, Narcís artículo
closedAccessJul-2011Long-Term Reliability of Railway Power Inverters Cooled by Heat-Pipe-Based SystemsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.artículo
closedAccessJul-2011Low-cost and versatile thermal test chip for power assemblies assessment and thermometric calibration purposesJordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Madrid, Francesc ; Flores, David; Hidalgo, Salvador; Millán, Joséartículo
closedAccessNov-2010Low-cost trench isolation technique for reverse blocking IGBT using boron nitride doping wafersVellvehi Hernández, Miquel; Gálvez Sánchez, José Luis ; Perpiñá Giribet, Xavier; Jordà, Xavier; Godignon, Philippe; Millán, Joséartículo
openAccessWO2009115630A1.pdf.jpg24-Sep-2009Method for producing RB-IGBT devicesVellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis ; Godignon, Philippe; Perpina Giribet, Xavierpatente
openAccessWO2016110607A1.pdf.jpg14-Jul-2016Method for the functional analysis of wirelessly fed semiconductorsLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xaviersolicitud de patente
openAccessES2374774A1.pdf.jpg22-Feb-2012Método de fabricación de dispositivos RB-IGBTVellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis ; Godignon, Philippe; Perpiñá Giribet, Xaviersolicitud de patente
closedAccessrestringido.pdf.jpgDec-2008Power-Substrate Static Thermal Characterization Based on a Test ChipJordà, Xavier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Coleto, J.artículo
openAccessES2579232A1.pdf.jpg8-Aug-2016Procedimiento de análisis funcional de semiconductores alimentados inalámbricamenteLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xaviersolicitud de patente
openAccessES2579232B1.pdf.jpg8-Aug-2016Procedimiento de análisis funcional de semiconductores alimentados inalámbricamenteLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavierpatente