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Navegación por Autor Pisonero, J.
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
openAccess | | 2010 | Análisis con resolución nanométrica de recubrimientos ultra-delgados en substratos de silicio, utilizando descargas luminiscentes de radiofrecuencia pulsada con detección por espectrometría de masas de tiempo de vuelo | Bordel, N.; Pisonero, J.; Martín, José Ignacio CSIC ORCID; Quirós, Carlos CSIC ORCID; Hierro-Rodríguez, Aurelio CSIC ORCID; Sanz-Medel, A. | comunicación de congreso |
closedAccess | | 2010 | Direct chemical in-depth profile analysis and thickness quantification of nanometer multilayers using pulsed-rf-GD-TOFMS | Valledor, Luis; Pisonero, J.; Bordel, N.; Martín, José Ignacio CSIC ORCID; Quirós, Carlos CSIC ORCID; Tempez, A.; Sanz-Medel, A. | artículo |
closedAccess | | 2011 | Minor elements determination and evaluation of diffusion/segregation effects on ultra-thin layers using pulsed-RF-GD-TOFMS | Pisonero, J.; Hierro-Rodríguez, Aurelio CSIC ORCID; Quirós, Carlos CSIC ORCID; Sanz-Medel, A. | artículo |
closedAccess | | 2012 | Pulsed rf-GD-TOFMS for depth profile analysis of ultrathin layers using the analyte prepeak region | Pisonero, J.; Quirós, Carlos CSIC ORCID; Martín, José Ignacio CSIC ORCID; Sanz-Medel, A. | artículo |