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Navegación por Autor Parisini, A.
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
openAccess | | 2013 | Charge trapping properties and retention time in amorphous SiGe/SiO 2 nanolayers | Vieira, E. M. F.; Díaz, R.; Grisolia, J.; Parisini, A.; Martín-Sánchez, Javier CSIC ORCID; Levichev, S.; Rolo, A. G.; Chahboun, A.; Gomes, M. J. M. | artículo |
closedAccess | | 2014 | IBA study of SiGe/SiO2 nanostructured multilayers | Barradas, N. P.; Alves, E.; Vieira, E. M. F.; Parisini, A.; Conde, O.; Martín-Sánchez, Javier CSIC ORCID; Rolo, A. G.; Chahboun, A.; Gomes, M. J. M. | artículo |
closedAccess | | 24-jul-2017 | SiGe layer thickness effect on the structural and optical properties of well-organized SiGe/SiO2 multilayers | Vieira, E. M. F.; Toudert, Johann CSIC ORCID; Rolo, A. G.; Parisini, A.; Leitäo, J. P.; Correira, M. R.; Franco, N.; Alves, E.; Chahboun, A.; Martín-Sánchez, Javier CSIC ORCID; Serna, Rosalía CSIC ORCID ; Gomes, M. J. M. | artículo |