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español
Navegación por Autor Papavieros, George
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | 2019 | Defects in nano-imprint lithography line patterns: Computational modelling and measurement accuracy | Constantoudis, Vassilios; Whitworth, Guy L. CSIC ORCID; Kehagias, N. CSIC ORCID; Papavieros, George; Sotomayor Torres, C. M. CSIC ORCID; Gogolides, Evangelos | comunicación de congreso |