Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
openAccess | | 14-jun-2019 | Future photometry based on solid-state lighting products | Poikonen, T.; Pulli, T.; Kokka, A.; Askola, J.; Dönsberg, T.; Šmíd, M.; Kliment, P.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Kübarsepp, T.; Gál, P.; Gerloff, T.; Sperling, A.; Källberg, S.; Dekker, P.; Thorseth, A.; Jost, S.; Klej, A.; Brida, G.; Reiners, T.; Blattner, P.; Stuker, F.; Ludwig, K.; Schneider, M. | comunicación de congreso |
openAccess | | 14-jun-2019 | Future photometry based on solid-state lighting products | Poikonen, T.; Pulli, T.; Kokka, A.; Askola, J.; Dönsberg, T.; Šmíd, M.; Kliment, P.; Pons Aglio, Alicia CSIC ORCID; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Kübarsepp, T.; Gál, P.; Gerloff, T.; Sperling, A.; Källberg, S.; Dekker, P.; Thorseth, A.; Jost, S.; Klej, A.; Brida, G.; Reiners, T.; Blattner, P.; Stuker, F.; Ludwig, K.; Schneider, M. | capítulo de libro |
closedAccess | | 24-feb-2014 | "Multidimensional reflectometry for industry" (xD-Reflect) an European research project | Höpe, Andreas; Koo, Annette; Martínez Verdú, Francisco; Leloup, Frédéric B.; Obein, Gaël; Wübbeler, Gerd; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Iacomussi, Paola; Jaanson, P.; Källberg, S.; Smidk, Marek | artículo |
closedAccess | | 1-mar-2017 | Multilateral spectral radiance factor scale comparison | Strothkämper, C.; Ferrero, Alejandro CSIC ORCID; Koo, A.; Jaanson, P.; Ged, G.; Obein, G.; Källberg, S.; Audenaert, J.; Leloup, F. B.; Martínez-Verdú, F.M.; Perales, E.; Schirmacher, A.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN | artículo |
openAccess | | 24-jun-2014 | xD-Reflect - >Multidimensional Reflectometry for Industry> a research project of the European Metrology Research Program (EMRP) | Hope, A.; Koo, A.; Forthmann, C.; Verdú, F.M.; Campos Acosta, Joaquín CSIC ORCID CVN ; Källberg, S. | comunicación de congreso |