| Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
| openAccess |  | 2013 | Application of digital speckle interferometry to visualize surface changes in metallic samples immersed in Cu(NO3)2 solutions | Andrés, Nieves; Andres-Arroyo, Ana; Arroyo, M. Pilar; Palero, Virginia R.; Lobera, Julia; Angurel, Luis A. CSIC ORCID | artículo |
| openAccess | ![CAPITULOS_DE_LIBROS309615[1].pdf.jpg](/retrieve/1088927/CAPITULOS_DE_LIBROS309615%5b1%5d.pdf.jpg) | ago-2010 | Application of Optical Techniques in the Characterization of Thermal Stability and Environmental Degradation in High Temperature Superconductors | Angurel, Luis A. CSIC ORCID; Andrés, Nieves; Arroyo, M. Pilar; Recuero, S.; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Pelegrín, J. CSIC ORCID; Lera, F. CSIC ORCID; Andrés Gimeno, José Manuel CSIC ORCID CVN | capítulo de libro |
| openAccess |  | 2011 | Changes in the thermal stability of 2G HTS wires by local modification of the stabilization layer | Angurel, Luis A. CSIC ORCID; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Pelegrín, J. CSIC ORCID; Lahoz, Ruth CSIC ORCID ; Fuente, Germán F. de la CSIC ORCID ; Andrés, Nieves; Arroyo, M. Pilar | artículo |
| openAccess |  | 2020 | Facile fabrication of microlenses with controlled geometrical characteristics by inkjet printing on nanostructured surfaces prepared by combustion chemical vapour deposition | Alamán, Jorge; López-Villuendas, Ana María; López-Valdeolivas, María CSIC; Arroyo, M. Pilar; Andrés, Nieves; Sánchez-Somolinos, Carlos CSIC ORCID | artículo |
| openAccess |  | 2022 | Iridiscencia: Una propiedad para evaluar la calidad en la generación de nanoestructuras superficiales | Porta-Velilla, Luis CSIC ORCID; Andrés, Nieves; Arroyo, María del Pilar; Castro, Miguel CSIC ORCID; Fuente, Germán F. de la CSIC ORCID ; Angurel, Luis A. CSIC ORCID | comunicación de congreso |
| closedAccess | | 16-ago-2006 | Laser technologies applied to the fabrication and characterization of bulk Bi-2212 superconducting materials for power applications | Angurel, Luis A. CSIC ORCID; Diez, J. C. CSIC ORCID; Fuente, Germán F. de la CSIC ORCID ; Gimeno, F.; Lera, F. CSIC ORCID; López-Gascón, Clarisa; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Mora Alfonso, Mario CSIC ORCID; Navarro, Rafael CSIC ORCID; Sotelo, Andres CSIC ORCID; Andrés, Nieves; Recuero, S.; Arroyo, M. Pilar | artículo |
| closedAccess |  | 2013 | Possibilities and limitations of digital speckle pattern interferometry in the analysis of corrosion processes in metallic materials | Andres-Arroyo, Ana; Andrés, Nieves; Palero, Virginia R.; Arroyo, M. Pilar; Angurel, Luis A. CSIC ORCID | artículo |
| openAccess |  | 2008 | Quench detection in YBa2Cu3O7-δ coated conductors using interferometric techniques | Angurel, Luis A. CSIC ORCID; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Lera, F. CSIC ORCID; Recuero, S.; Andrés, Nieves; Arroyo, M. Pilar; Xie, Y. Y.; Selvamanickam, V. | artículo |
| closedAccess |  | 2011 | Two-dimensional quantification of the corrosion process in metal surfaces using digital speckle pattern interferometry | Andrés, Nieves; Lobera, Julia; Arroyo, M. Pilar; Angurel, Luis A. CSIC ORCID | artículo |
| closedAccess |  | 28-abr-2008 | Visualisation of environmental degradation in ceramic superconductors using digital speckle photography | Recuero, S.; Bona, María T. CSIC; Andrés, Nieves; Andrés Gimeno, José Manuel CSIC ORCID CVN ; Angurel, Luis A. CSIC ORCID | artículo |
