English   español  

Navegación por Autor Vellvehi Hernández, Miquel

Ir a: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z
O introducir las primeras letras:  
Mostrando resultados 7 a 26 de 31 < Anterior   Siguiente >
DerechosPreviewFecha Public.TítuloAutor(es)Tipo
openAccessARTICULOS13282[1].pdf.jpgdic-2004Heat power source controller circuitMadrid, Francesc CSIC; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Perpiñà, X.; Godignon, Philippeartículo
openAccessARTICULOS315585[1].pdf.jpg2011Hot spot analysis in integrated circuit substrates by laser mirage effectPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Altet, J.artículo
closedAccessoct-2008Hot-Spot Detection in Integrated Circuits by Substrate Heat-Flux SensingPerpiñà, X.; Altet, J.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Millán, José; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
closedAccess2004Internal infrared laser deflection system: a tool for power device characterizationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Mestres, Narcís CSIC ORCID ; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; Millán, José; Kiedrowski, H. vonartículo
openAccessWO2007122281A1.pdf.jpg1-nov-2007Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular, método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan Antoniopatente
openAccess2317731_B1.pdf.jpg4-feb-2010Interruptor de potencia bidireccional, inteligente y modular. Método y realizaciónJordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Vellvehi Hernández, Miquel; Godignon, Philippe; José Prieto, Miguel Ángel; Martín Ramos, Juan Antoniopatente
closedAccessene-2009Laser beam deflection-based perimeter scanning of integrated circuits for local overheating locationPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Altet, J.; Vellvehi Hernández, Miquel; Mestres, Narcís CSIC ORCID artículo
closedAccessjul-2011Long-Term Reliability of Railway Power Inverters Cooled by Heat-Pipe-Based SystemsPerpiñà, X.; Jordà, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Rebollo, J.; Mermet-Guyennet, M.artículo
closedAccessjul-2011Low-cost and versatile thermal test chip for power assemblies assessment and thermometric calibration purposesJordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Madrid, Francesc CSIC; Flores, David; Hidalgo, Salvador ; Millán, Joséartículo
closedAccessnov-2010Low-cost trench isolation technique for reverse blocking IGBT using boron nitride doping wafersVellvehi Hernández, Miquel; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Perpiñá Giribet, Xavier; Jordà, Xavier; Godignon, Philippe; Millán, Joséartículo
openAccessWO2009115630A1.pdf.jpg24-sep-2009Method for producing RB-IGBT devicesVellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Godignon, Philippe; Perpiñá Giribet, Xavierpatente
openAccessWO2016110607A1.pdf.jpg14-jul-2016Method for the functional analysis of wirelessly fed semiconductorsLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xaviersolicitud de patente
openAccessWO2023002079A1.pdf.jpg26-ene-2023Method for the quantitative measurement of temperatureFerrer Falces, Conrad; Perpiñá, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Aviñó Salvadó, Oriol CSIC ORCID solicitud de patente
openAccessES2374774A1.pdf.jpg22-feb-2012Método de fabricación de dispositivos RB-IGBTVellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Gálvez Sánchez, José Luis CSIC ORCID; Godignon, Philippe; Perpiñá Giribet, Xaviersolicitud de patente
openAccessES2932781A1.pdf.jpg25-ene-2023Método para la medida cuantitativa de temperaturaFerrer Falces, Conrad; Perpiñá, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavier; Aviñó Salvadó, Oriol CSIC ORCID solicitud de patente
closedAccessrestringido.pdf.jpgdic-2008Power-Substrate Static Thermal Characterization Based on a Test ChipJordà, Xavier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Coleto, J.artículo
openAccessES2579232A1.pdf.jpg8-ago-2016Procedimiento de análisis funcional de semiconductores alimentados inalámbricamenteLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xaviersolicitud de patente
openAccessES2579232B1.pdf.jpg8-ago-2016Procedimiento de análisis funcional de semiconductores alimentados inalámbricamenteLeón Cerro, Javier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; Jordà, Xavierpatente
openAccessARTICULOS13782[1].pdf.jpg12-dic-2009Reduced-Order Thermal Behavioral Model Based on Diffusive RepresentationAllard, Bruno; Jordà, Xavier; Perpiñà, X.; Vellvehi Hernández, Miquel; M’Rad, Sabrineartículo
openAccessWO2009092841A1.pdf.jpg30-jul-2009Self-aligned metal mask assembly for selectively depositing thin films on microelectronic substrates and devices, and method of useJordà, Xavier; Perpiñá Giribet, Xavier; Vellvehi Hernández, Miquel; Sánchez Sánchez, David; Godignon, Philippepatente