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español
Navegación por Autor Méndez, José Antonio
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Derechos | Preview | Fecha Public. | Título | Autor(es) | Tipo |
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openAccess | 6-nov-2015 | VUV reflectometer for in-situ measurement of coatings | Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID | póster de congreso |