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Navegación por Autor Aznárez, José Antonio

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openAccessPolarizers0001.pdf.jpg13-abr-2015Polarizers for a spectral range centered at 121.6 nm operating by reflectance or by transmittanceLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Malvezzi, A. Marco; Giglia, Angelo; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Miotti, Paolo; Frassetto,Fabio; Massone, Giuseppe; Capobianco, Gerardo; Fineschi,Silvano; Nannaron, Stefanocomunicación de congreso
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg12-may-2015Polarizers for a spectral range centered at 121.6 nm operating by reflectance or by transmittanceLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Malvezzi, A. Marco; Giglia, Angelo; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Miotti, Paolo; Frassetto,Fabio; Massone, Giuseppe; Capobianco, Gerardo; Fineschi,Silvano; Nannaron, Stefanoartículo
openAccess24-abr-2017Polarizers tuned at key far-UV spectral lines for space instrumentationLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Malvezzi, A. Marco; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Giglia, Angelo; Gutiérrez-Luna, Nuria CSIC ORCID CVN; Espinosa-Yáñez, Lucía CSIC; Honrado-Benítez, Carlos CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Massone, Giuseppe; Capobianco, Gerardo; Feneschi, Silvano; Nannarone, S.comunicación de congreso
openAccess31-may-2017Polarizers tuned at key far-UV spectral lines for space instrumentationLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Malvezzi, A. Marco; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Giglia, Angelo; Gutiérrez-Luna, Nuria CSIC ORCID CVN; Espinosa-Yáñez, Lucía CSIC; Honrado-Benítez, Carlos CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Massone, Giuseppe; Capobianco, Gerardo; Feneschi, Silvano; Nannarone, S.artículo
openAccessRecubrimientos.pdf.jpgjun-2006Recubrimientos ópticos en el rango espectral entre 50 y 200 nmFernández-Perea, Mónica CSIC; Méndez, José Antonio CSIC; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2014Reflective and transmissive broadband coating polarizers in a spectral range centered at 121.6nmLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Malvezzi, A. Marco; Giglia, A.; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Miotti, P.; Frassetto, F.; Massone, Giuseppe; Nannarone, S.; Crescenzio, G.; Capobianco, Gerardo; Fineschi,Silvanoartículo
openAccessWO2020141244A1.pdf.jpg9-jul-2020Resistive heat source for thin film deposition by means of vacuum evaporationAznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Sánchez-Orejuela, José María; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCIDsolicitud de patente
openAccessSelf-consistent.pdf.jpg21-feb-2017Self-consistent optical constants of MgF2,LaF3, and CeF3 filmsRodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Aznárez, José Antonio CSIC ORCIDartículo
openAccessLarruquert.pdf.jpg2011Self-consistent optical constants of SiC thin filmsLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Pérez Marín, Antonio P.; García-Cortés, Sergio CSIC; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSICartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg26-oct-2016Self-consistent optical constants of SiO2 and Ta2O5 filmsRodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Aznárez, José Antonio CSIC ORCIDartículo
openAccessLarruquert.pdf.jpg2012Self-consistent optical constants of sputter-deposited B 4C thin filmsLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Pérez Marín, Antonio P.; García-Cortés, Sergio CSIC; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSICartículo
openAccessSelf_consistent.pdf.jpg10-nov-2016Self-consistent optical-constant of materials for EUV multilayer coatingsLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Aznárez, José Antonio CSIC ORCIDcomunicación de congreso
closedAccess22-jul-2004Study of rough growth fronts of evaporated polycrystalline gold filmsMunuera, C. CSIC ORCID ; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Rodríguez Cañas, Enrique CSIC ORCID; Oliva, A. I.; Aguilar, M.; Sacedón Adelantado, José Luis CSICartículo
openAccesscoatings-09-00428.pdf.jpg5-jul-2019Temperature dependence of AlF3 protection on Far-UV Al mirrorsGutiérrez-Luna, Nuria CSIC ORCID CVN; Perea-Abarca, Belén CSIC ORCID; Espinosa-Yáñez, Lucía CSIC; Honrado-Benítez, Carlos CSIC ORCID; Lis, Tomás de CSIC; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCIDartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg3-mar-2015Transmittance and optical constants of ca films in the 4-1000 eV spectral rangeRodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Vidal Dasilva, Manuela; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; García-Cortés, Sergio CSIC; Méndez, José Antonio CSIC; Poletto, L.; Frassetto, F.; Malvezzi, A. Marco; Bajoni, D.; Giglia, A.; Mahne, N.; Nannarone, S.artículo
openAccessLarruquert.pdf.jpg2011Transmittance and optical constants of erbium films in the 3:25 - 1580 eV spectral rangeLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Frassetto, F.; García-Cortés, Sergio CSIC; Vidal Dasilva, Manuela; Fernández-Perea, Mónica CSIC; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Nannarone, S.artículo
openAccessFernández.pdf.jpg2011Transmittance and optical constants of Ho films in the 3-1340 eV spectral rangeFernández-Perea, Mónica CSIC; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Poletto, L.; Frassetto, F.; Malvezzi, A. Marco; Bajoni, D.; Giglia, A.; Mahne, N.; Nannarone, S.artículo
openAccessGarcía-.pdf.jpg2010Transmittance and optical constants of Lu films in the 3-1800 eV spectral rangeGarcía-Cortés, Sergio CSIC; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Larruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Aznárez, José Antonio CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Poletto, L.; Frassetto, F.; Malvezzi, A. Marco; Giglia, A.; Mahne, N.; Nannarone, S.artículo
openAccessVUV.pdf.jpg6-nov-2015VUV reflectometer for in-situ measurement of coatingsLarruquert, Juan Ignacio CSIC ORCID; Rodríguez de Marcos, Luís CSIC ORCID; Méndez, José Antonio CSIC; Aznárez, José Antonio CSIC ORCIDpóster de congreso