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Navegación por Autor Andrés, Nieves

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closedAccess16-ago-2006Laser technologies applied to the fabrication and characterization of bulk Bi-2212 superconducting materials for power applicationsAngurel, Luis A. CSIC ORCID; Diez, J. C. CSIC ORCID; Fuente, Germán F. de la CSIC ORCID ; Gimeno, F.; Lera, F. CSIC ORCID; López-Gascón, Clarisa; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Mora Alfonso, Mario CSIC ORCID; Navarro, Rafael CSIC ORCID; Sotelo, Andres CSIC ORCID; Andrés, Nieves; Recuero, S.; Arroyo, M. Pilarartículo
closedAccessaccesoRestringido.pdf.jpg2013Possibilities and limitations of digital speckle pattern interferometry in the analysis of corrosion processes in metallic materialsAndres-Arroyo, Ana; Andrés, Nieves; Palero, Virginia R.; Arroyo, M. Pilar; Angurel, Luis A. CSIC ORCIDartículo
openAccess2008_JAP_YBCO interferometry_Angurel.pdf.jpg2008Quench detection in YBa2Cu3O7-δ coated conductors using interferometric techniquesAngurel, Luis A. CSIC ORCID; Martínez, Elena CSIC ORCID ; Lera, F. CSIC ORCID; Recuero, S.; Andrés, Nieves; Arroyo, M. Pilar; Xie, Y. Y.; Selvamanickam, V.artículo
closedAccessrestringido.pdf.jpg2011Two-dimensional quantification of the corrosion process in metal surfaces using digital speckle pattern interferometryAndrés, Nieves; Lobera, Julia; Arroyo, M. Pilar; Angurel, Luis A. CSIC ORCIDartículo
closedAccessARCHIVO COMODIN DIGITAL CSIC.pdf.jpg28-abr-2008Visualisation of environmental degradation in ceramic superconductors using digital speckle photographyRecuero, S.; Bona, María T. CSIC; Andrés, Nieves; Andrés Gimeno, José Manuel CSIC ORCID CVN ; Angurel, Luis A. CSIC ORCIDartículo
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