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Issue DateTitleAuthor(s)Type
2012Digital adaptive calibration of multi-step analog to digital convertersZjajo, Amir; Barragán, Manuel J.; Pineda de Gyvez, JoséArtículo
2009Efficient functional built-in test for RF systems using two-tone response envelope analysisBarragán, Manuel J.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
2013Efficient selection of signatures for analog/RF alternate testBarragán, Manuel J.; Léger, G.Comunicación de congreso
2010Guidelines for the efficient design of sinewave generators for analog/mixed-signal BISTBarragán, Manuel J.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
Nov-2011Improving the accuracy of RF alternate test using multi-VDD conditions: application to envelope-based test of LNAsBarragán, Manuel J.; Fiorelli, R.; Léger, G.; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
May-2010Low-cost signature test of RF blocks based on envelope response analysisBarragán, Manuel J.; Fiorelli, R.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
6-Feb-2012Low-power die-level process variation and temperature monitors for yield analysis and optimization in deep-submicron CMOSZjajo, Amir; Barragán, Manuel J.; Pineda de Gyvez, JoséArtículo
3-Jan-2013Method and system for testing integrated radio-frecuency circuits at the wafer level and the use thereofHuertas-Díaz, J. L.; Barragán, Manuel J.Patente
Apr-2012Multi-condition alternate test of analog, mixed-signal, and RF systemsBarragán, Manuel J.; Léger, G.; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
2012OBT for settling error test of sampled-data systems using signal-dependent clockingBarragán, Manuel J.; Léger, G.; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
2010On-chip biased voltage-controlled oscillator with temperature compensation of the oscillation amplitude for robust I/Q generationGinés, A. J.; Doldán, R.; Barragán, Manuel J.; Rueda, Adoración; Peralías, E.Comunicación de congreso
Jan-2010On-chip characterization of RF systems based on envelope response analysisBarragán, Manuel J.; Fiorelli, R.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Artículo
Apr-2008Practical implementation of a network analyzer for analog BIST applicationsBarragán, Manuel J.; Vázquez, Diego; Rueda, AdoraciónComunicación de congreso
2009Practical test cores for the on-chip generation and evaluation of analog test signals: Application to a network/spectrum analyzer for analog BISTBarragán, Manuel J.; Vázquez, Diego; Rueda, AdoraciónComunicación de congreso
2005Sine-wave signal characterization using square-wave and ΣΔ-modulation: Application to mixed-signal BISTVázquez, Diego; Huertas, Gloria; Luaque, África; Barragán, Manuel J.; Léger, G.; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Artículo
2013Sinusoidal signal generation for mixed-signal BIST using a harmonic-cancellation techniqueBarragán, Manuel J.; Léger, G.; Vázquez, Diego; Rueda, AdoraciónComunicación de congreso
Jan-2010(Some) Open problems to incorporate BIST in complex heterogeneous integrated systemsBarragán, Manuel J.; Huertas, Gloria; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso

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