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Issue DateTitleAuthor(s)Type
2010bellatrixBarragán, Manuel J.; Peralías, E.Circuito Integrado
May-2007BIST Method for Die-Level Process Parameter Variation Monitoring in Analog/Mixed-Signal Integrated CircuitsZjajo, Amir; Barragán, Manuel J.; Pineda de Gyvez, JoséComunicación de congreso
2012Digital adaptive calibration of multi-step analog to digital convertersZjajo, Amir; Barragán, Manuel J.; Pineda de Gyvez, JoséArtículo
2009Efficient functional built-in test for RF systems using two-tone response envelope analysisBarragán, Manuel J.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
2013Efficient selection of signatures for analog/RF alternate testBarragán, Manuel J.; Léger, G.Comunicación de congreso
May-2009Generación y evaluación on-chip de señales analógicas para aplicaciones bist de circuitos analógicos y de señal mixtaBarragán, Manuel J.Tesis
2010Guidelines for the efficient design of sinewave generators for analog/mixed-signal BISTBarragán, Manuel J.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
2010idusBarragán, Manuel J.; Peralías, E.Circuito Integrado
Nov-2011Improving the accuracy of RF alternate test using multi-VDD conditions: application to envelope-based test of LNAsBarragán, Manuel J.; Fiorelli, R.; Léger, G.; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
May-2010Low-cost signature test of RF blocks based on envelope response analysisBarragán, Manuel J.; Fiorelli, R.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
6-Feb-2012Low-power die-level process variation and temperature monitors for yield analysis and optimization in deep-submicron CMOSZjajo, Amir; Barragán, Manuel J.; Pineda de Gyvez, JoséArtículo
2009menkarBarragán, Manuel J.; Peralías, E.Circuito Integrado
3-Jan-2013Method and system for testing integrated radio-frecuency circuits at the wafer level and the use thereofHuertas-Díaz, J. L.; Barragán, Manuel J.Patente
11-Feb-2013Método y sistema de testado de circuitos integrados de radiofrecuencia a nivel de oblea y su usoHuertas-Díaz, J. L.; Barragán, Manuel J.Solicitud de patente
Apr-2012Multi-condition alternate test of analog, mixed-signal, and RF systemsBarragán, Manuel J.; Léger, G.; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
2012OBT for settling error test of sampled-data systems using signal-dependent clockingBarragán, Manuel J.; Léger, G.; Huertas-Díaz, J. L.Comunicación de congreso
2010On-chip biased voltage-controlled oscillator with temperature compensation of the oscillation amplitude for robust I/Q generationGinés, A. J.; Doldán, R.; Barragán, Manuel J.; Rueda, Adoración; Peralías, E.Comunicación de congreso
Jan-2010On-chip characterization of RF systems based on envelope response analysisBarragán, Manuel J.; Fiorelli, R.; Vázquez, Diego; Rueda, Adoración; Huertas-Díaz, J. L.Artículo
2015On-chip sinusoidal signal generation with harmonic cancelation for analog and mixed-signal BIST applicationsBarragán, Manuel J.; Leger, Gildas; Vázquez, Diego; Rueda, AdoraciónArtículo
Apr-2008Practical implementation of a network analyzer for analog BIST applicationsBarragán, Manuel J.; Vázquez, Diego; Rueda, AdoraciónComunicación de congreso

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