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Navegación por Autor Vaccaro, Pablo Óscar

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openAccessAlonso_ApplSurfSci_2017_postprint.pdf.jpg1-nov-2017Spectroscopic imaging ellipsometry of self-assembled SiGe/Si nanostructuresAlonso Carmona, M. Isabel ; Funke, S.; González, A. ; Garriga Bacardi, Miquel ; Vaccaro, Pablo Óscar ; Goñi, Alejandro R. ; Ruiz, Ana ; Alonso, María ; Thiesen, P.H.Artículo